ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ
НАУЧНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ЦЕНТР МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ И
СУБМИКРОННЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
EN / RU

МЕТРОЛОГИЯ И ДИАГНОСТИКА

В 2008-2010 гг. НТЦ микроэлектроники РАН был оснащен современным специализированным метрологическим оборудованием, на основе которого создан комплекс для контроля и исследования электрооптических, световых и тепловых характеристик полупроводниковых наногетероструктур, светодиодов и твердотельных источников света, полупроводниковых лазеров. В состав специализированного измерительного комплекса для прецизионного контроля характеристик приборов, а также проведения ресурсных и климатических испытаний входит оборудование ведущих фирм-производителей: Optronic Laboratories Inc, Radiant Imaging Inc., Janis Research Company Inc, Ocean Optics Inc., Avantes BV, Tektronix Inc., Agilent Technologies Inc., MicRed Ltd., Keithley и др., а также оригинальный ИК-тепловизионный микроскоп, разработки ИФП СО РАН.