| Технологический рост гетероструктур |
Эпитаксиальный рост гетероструктур для транзисторов с высокой подвижностью электронов |
Установка МОС гидридной эпитаксии «DRAGON») |
|
| Эпитаксиальный рост гетероструктур полупроводниковых соединений A3B5 методом молекулярно-пучковой эпитаксии (МПЭ) для оптоэлектроники, радиофотоники и наноэлектроники |
Установка молекулярно-пучковой эпитаксии MBE-FIB-FEB (МЭМС) |
|
|
Комплекс молекулярно-пучковой эпитаксии Compact 21 TM (Riber) (моудль) |
|
| Вторичная ионн-масс спектроскопия наногетероструктур |
|
|
|
| Оже-электронная спектроскопия |
Сканирующий оже-электронный профилометр МР-2000 (Riber) |
|
| Вторично-ионный микроанализ |
Универсальный вторично-ионный микроанализатор IonMicroanalyzer IMS-4F в расширенной комплектации с комплектом дополнительного специального научного и инженерного оборудования обеспечивающего его работоспособность и с комплектом ЗиП IMS-4F Cameca Франция |
|
|
|
|
| Исследование электрических и оптических характеристик оптоэлектронных приборов и материалов |
Спектрометрия в УФ, видимом и ближнем ИК диапазоне |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) |
|
| Мощность излучения (световой поток) |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs |
|
| Сила излучения (сила света) |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs |
|
| Угловое распределение силы излучения (силы света) 0-180° |
Установка для измерения силы света и координат цветности источников излучения "Radiant Imaging" IS-LI™ Luminous Intensity Measurement System (входит в комплекс) |
|
| Спектральные и угловые зависимости коэффициентов отражения, пропускания и рассеяния |
Спектрометрическая установка OL Series 750 Spectroradiometric Measurement System (входит в комплекс) “OL 750-M-D “OL 750D Automated Spectroradiometer and Accessories for optical measurement with VIS-NIR wavelength” |
|
| Радиометрия и Фотометрия |
Спектрометрическая установка OL Series 750 Spectroradiometric Measurement System (входит в комплекс) “OL 750-M-D “OL 750D Automated Spectroradiometer and Accessories for optical measurement with VIS-NIR wavelength” |
|
| Колориметрия |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs” |
|
| Координат цветности |
Установка для измерения силы света и координат цветности источников излучения "Radiant Imaging" IS-LI™ Luminous Intensity Measurement System (входит в комплекс) |
|
| Коррелированная цветовая температур |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs” |
|
| Общий и частные индексы цветопередачи |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs” |
|
| Электрооптические характеристики полупроводниковых излучателей в широком температурном диапазоне |
Криостат замкнутого цикла с оптическим окном “CCS-450 Standard Optical Closed-cycle Refrigerator Systems” (Janis Research Company Inc, США) и спектрорадиометра “Spectrometer Avaspec 2048” (Avantes BV, Ниделанды) |
|
| Интегральные характеристики излучения: спектр, мощность, квантовый выход, КПД и др. |
Cпектрофотоколориметрический комплекс на базе OL 770-UV/VIZ (Optronic Laboratories) Комплекс для измерения силы света, светового потока и координат цветности источников излучения OL770-LED (входит в комплекс) OL 770-LED High-speed LED Test and Measurement System Configured for Source Spectral Analysis of LEDs” |
|
| Исследование тепловых характеристик полупроводниковых приборов |
Ближнее и дальнее поле излучения |
Зондовая установка Suss PM-5 с оптическим микроскопом Mitutoyo (SUSS MicroTec) (входит в комплекс) |
|
| Тепловые характеристик полупроводниковых приборов |
Универсальный термографический комплекс УТК-1 (ИФП СО РАН) (ИК-тепловизор «Свит») |
|
| Измерение теплового сопротивления по методу температурочувствительных параметров |
Прибор для измерения тепловых сопротивлений полупроводниковых приборов и интегральных модулей "Thermal tester T3Ster" (MicRed Ltd.) (входит в комплекс) |
|
| Измерение температурных полей методом ИК - микроскопии |
Универсальный термографический комплекс УТК-1 (ИФП СО РАН) (ИК-тепловизионный микроскоп) |
|
